薄膜干涉△x推导
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劈尖检测平面凹凸情况 |
薄膜干涉测平面凹凸原理,劈尖干涉测量薄膜厚度
测试平面凹度的一般方法是采用等厚干涉的方法——将参考反射面(高质量,假设平坦)和薄膜干涉透明待测物体的两个反射面的反射光叠加。 干涉图样。 当光照射薄膜时,薄膜正反面反射的两柱光形成相干光。 2.薄膜干涉原理条纹间距与厚度的关系①当裂隙膜厚度均匀变化时,干涉条消失
在了解薄膜干涉凹凸原理之前,我们先来了解一下薄膜干涉的基本原理。 薄膜干涉是光沿同一条路径通过多个介质界面时由反射和折射引起的干涉现象。 光在各介质界面上的干涉法检查平面平整度和凹凸原理。高光滑度板的下表面与待测表面之间的空气层形成薄膜干涉。 如果待测表面光滑度高,则在上板上观察到的亮线和暗线将是平行的。 待测表面有凸起,对应
1、基本方法如图A所示,在两块板之间形成气膜,从上到下照射单色光。入射光从气膜的上下表面反射,反射出两列光波。激光干涉仪通常要求测量的表面不足。 平滑以确保局部高度变化不超过光波长的四分之一。 对于光波,相位是一半
1、薄膜干涉是光在空气层中上下两层反射叠加形成的,光程差是厚度的两倍,所以相同的厚度形成相同的亮(暗)条纹。 2、由△x=Ldλ可知,更换液体后,光速减小,波长减小。 平面凹凸的薄膜干涉检查原理。玉罗新臣选答。检查平面凹凸的一般方法是采用等厚干涉法——参考反射面(高质量,假设平坦)和被测反射面。 平行激光(扩束+
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