等厚干涉过程分析,等厚干涉中Dm2—Dn2数据

等厚干涉过程分析,等厚干涉中Dm2—Dn2数据

等厚干涉的基本原理是光的干涉。 当一束平行光照射薄膜时，光线被反射，反射光束穿过薄膜后发生干涉。 如果薄膜的厚度均匀变化，反射光束将在薄膜内传播时定期重复此过程。 这些条纹仅在样本厚度存在局部变化时才会出现，否则对比度将是均匀的灰色。 等斜条纹当衍射晶面的方位发生变化时，即衍射面相对于电子束倾斜时，图像也会产生对比度。

˙▽˙ 1.观察光的等厚干涉现象，加深对干涉原理的理解。2.了解牛顿环干涉现象，测量装置中平凸透镜的曲率半径。3.掌握读数显微镜的使用。4.掌握逐差法处理数据。2.仪器读数显微镜，原因分析：1）是否有干涉干扰是严格的等斜干扰，影响实验数据的准确性。 严格同斜干涉要求移动镜面M1和虚拟镜面M2严格平行。 当两镜不平行时，形成的干涉条纹不会

⊙ω⊙ 经过本次实验的仔细观察，我们终于观察到了等厚干涉现象。不过，由于对读数显微镜的使用有些不熟悉，我们在读数时遇到了一些困难。好在查了资料后，我渐渐记住了读数方法。 光的等厚干涉原理在生产实践中得到广泛应用，可以用来检测镜片的曲率，测量光波的波长，精确测量笑脸的长度、厚度和角度，检查物体表面的光滑度和平整度。 1.实验目的(1)

等厚干涉实验步骤：第一步：准备实验设备：光学板、光源、凹透镜、玻璃板、显微镜和等厚干涉实验报告。当平行单色光垂直照射到牛顿环装置上时，因为平凸透镜与玻璃之间有一层空气膜，空气膜的厚度从中心向外增加，气膜与玻璃之间的上下界面反射的两束光有光程差。

2.2测量过程获得严格的等斜干涉条纹后，进行测量。 测量装置的详细结构如图4所示。力传感器固定在支架上，测力钩与移动镜之间留有间隙。 测量步骤如下：(1)放置待测量的细且等厚的条纹。同样，等斜干涉肯定会有透射干涉条纹。把镜头放在胶片下面就可以看到。 因此，我们不能形成固定的思维模式，而是要动动脑筋从光程差来分析干涉问题。透射条纹和先前反射条纹的推导都是