形貌衬度和成分衬度各有什么特点,二次电子象的表面形貌衬度原理

形貌衬度和成分衬度各有什么特点,二次电子象的表面形貌衬度原理

具体内容包括X射线物理基础知识、X射线衍射方向和强度、多晶分析方法、相位分析和平面参数的精确测定、宏观残余应力的测定、电子光学基础知识、透射电镜、电子衍射、晶体薄膜等。 影响二次电子产额的主要因素有：①二次电子能谱特征；②入射电子的能量；③材料的原子序数；④样品倾斜角。 二次电子图像的对比度可分为以下几类：①形貌对比度；②构图对比度

地形对比度的特征和用途构图对比度在SEM图像中，通常存在一些亮或暗的区域。 这些亮度差异主要来自两种类型的对比度：地形对比度和构图对比度。 如果是纯物质单组分样品，3.形貌观察：光学显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜、扫描隧道显微镜、原子力显微镜。 第二章X射线衍射分析1.X射线的本质是电磁辐射，具有波粒二象性。 X射线波长范围

答：表面形貌对比度是指样品表面形貌差异造成的对比度。 使用对样品表面形貌变化敏感的物理信号调制成像，可以获得形貌对比图像。 形貌对比度的形成是由于某些信号，例如二次电子和背面形貌对比度。对比度是由于样品的表面形貌差异而形成的。 利用对样品表面形态变化敏感的物理信号调制成像，可以获得形态

在SEM图像中，通常有一些区域较暗，有些区域较亮。 这些亮度差异主要来自两种类型的对比度：地形对比度和构图对比度。 如果是纯物质的单组分样品，在SEM图像中会出现坡度相对较大的一面。形貌对比构图的特征和使用形貌对比构图对比是两种不同的对比技术。用途用于评价材料的结构和性能。 形态对比是一种依赖于材料形状的结构对比技术。

这些亮度差异主要来自两种类型的对比度：地形对比度和构图对比度。 如果是纯物质的单组分样品，SEM图像中斜率较大的一侧会更亮。 δ表示二次电子产额，与倾角成正值。二次电子信号来自样品表面层5～10nm。电子与样品原子的核外电子相互作用，部分能量转移到原子上，使原子中的电子被排出，产生二次电子。二次电子信号的强度与